其工作原理是將待測手機平板放于干涉儀的參考平面鏡和標準反射鏡中間，從標準參考鏡反射的光和標準反射鏡的光相干涉。干涉條紋則反映了手機面板攝像孔透射波前的好壞。

   具體方法為干涉儀通過標準參考鏡射出平行光，標準反射鏡置于二維載物臺上，通過二維調節(jié)旋鈕將干涉條紋分為零條紋，此時再將手機面板攝像孔放在其干涉腔內，監(jiān)視器就會出現(xiàn)攝像孔的透射波前干涉條紋，通過干涉條紋的好壞和數(shù)量則可判斷手機面板攝像孔加工后對成像系統(tǒng)像質影響的程度。

性能**

1.小型平面光學零件的平面度及面形測定。

2.各種材料的高精度鏡片的球面測定。

3.獨特的全光學與機臺設計，進一步提高設備穩(wěn)定性。

簡單易用，可升級雙工位

1.操作簡便，20分鐘內便可熟練操作。

2.標準的測量/校正切換功能，使光調整更容易方便。

3.市面上的干涉儀普遍只能測PV值，我司的干涉儀可以加裝玻璃厚度測量功能，可大大減少用人成本與時間成本。

超乎想象的穩(wěn)定性

抗震性能ji jia，采用穩(wěn)定性ji jia的大理石機座，可大大減少外界因素引起的抖動。

軟件功能：

a）允許進行網(wǎng)絡數(shù)據(jù)傳輸；

b）具有干涉圖亮度的軟件調節(jié)機制；

c）自動追蹤攝像孔測量；

d）自動連續(xù)測量，方便后期實現(xiàn)全自動測量；

e）自動生成二維，三維圖，更加直觀；

f）帶分析和結果分析功能；

g）測試數(shù)據(jù)可以導出Excel文件保存；

h）攝像孔面形圖、二維圖、三維圖、測試數(shù)據(jù)結果可以自動保存，可實現(xiàn)產品追溯分析。

1.   光學原理:索菲干涉原理

2.   口徑：25mm

3.   激光源：半導體激光器（λ=635）

4.   分辨率：795H*596V

5.   平面測試精度：PV  λ/20 ,RMS   λ/100

6.  球面面形精度：PV  λ/10,RMS   λ/50

7.   電源：AC  220V  50Hz

8.   量化測試時間：大約1.5秒/次

9.   外形尺寸：260x160x130mm

10.   主機重量:約7.4kg

配件清單：

a)   電腦主機

b)   顯示器

c)  Smart分析軟件

d) 攝像孔平面檢查儀

e)   配套2條電源線與1個開關電源24V

f）  USB連接線與****線